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薄膜厚度测定仪
发布日期:2012-01-12

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薄膜厚度测定仪

薄膜厚度测定仪符合标准:

  QB/T 1053-98,QB/T 451.3-98

薄膜厚度测定仪产品用途:

  薄膜厚度测定仪适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜厚度测定仪技术指标:

  1.测量范围:0-3mm
  

薄膜厚度测定仪

2.测量精度:0.001mm
  3.接触压力:100±10kpa

  4.接触面积:2±0.05cm2

上海西光实业有限公司  联系电话:61425330  顾经理

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